




簡要描述:NB/T47013-2015超聲波探傷試塊該類試快依據(jù)掃查面盲區(qū)高度測定試塊的要求而設(shè)計(jì),適用于測定初初始掃差面的盲區(qū)高度。
產(chǎn)品型號(hào):
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間:2022-12-19
訪 問 量:977該類試快依據(jù)掃查面盲區(qū)高度測定試塊的要求而設(shè)計(jì),適用于測定初初始掃差面的盲區(qū)高度。

該類試快依據(jù)掃查面盲區(qū)高度測定試塊的要求而設(shè)計(jì),適用于測定初初始掃差面的盲區(qū)高度
該類試快依據(jù)掃查面盲區(qū)高度測定試塊的要求而設(shè)計(jì),適用于測定初初始掃差面的盲區(qū)高度
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